一、雙光束分光光度計光源部分：
（1）故障：鎢絲燈不亮。
原因：鎢絲燈絲燒（這個原因是Zui高）。
檢查：鎢燈兩端有工作電壓，但燈不亮，取出鎢燈用萬用表電阻文件檢測。
處置：更換新型鎢絲燈；
（2）擊穿：氘燈不亮；
原因：氘燈啟動電路故障。
檢查：在發光過程中，燈絲通常預熱幾秒鐘，然后燈陽極和陰極會發光放電，如果燈在閃光開始時閃爍或連續閃爍，并且更換新的氘燈仍然一樣，那么在發光中可能出現故障。電路，燈電流調整與大功率晶體管損壞的概率是Zui。
處置：專業人員需要修理。
二、雙光束分光光度計信號部分：
（1）故障：沒有檢測信號輸出。
原因：沒有光束暴露于樣品室。
檢查：將波長設為530nm，將狹縫盡量開到嘴邊，在黑暗環境下將白紙放在樣品室的光窗出口處，觀察白紙上是否有綠點圖像。
處理：檢查光源鏡是否就位，雙光束切割機是否轉動（耳朵能聽到電機轉動的聲音）；
（2）失敗：在樣品室中沒有任何物質，基線噪聲在整個波長范圍內是大的。
原因：光源反射鏡位置不正確，石英窗表面濺落在樣品上。
檢查：觀察光源是否入射到入射狹縫的中心。石英窗上有污染物嗎？
處理：重新調整光源反射鏡的位置，用酒精清洗石英窗。
（3）失敗：在樣品室中沒有任何物質，只有紫外區域的基線噪聲較大。
原因：氘燈老化、光學系統鏡面劣化、濾池結晶。
檢查：可見光區域的基線比較平坦，關機后，打開單色儀和儀器上蓋，用肉眼觀察光柵和反射器的表面，覆蓋一層白霧；如果光學系統正常，Zui可能很大。氘燈老化時，可通過能量檢查判斷或更換新的燈管方法；
處理：更換氘燈，用火棉膠粘貼鏡面污垢，或用砂漿研磨過濾器（注：這項技術需要一些維護經驗才能實施）；
（4）故障：樣品室放置在空白處用于基線記憶。噪聲很大，特別是在紫外區域。
原因：比色皿表面或內壁受到污染，玻璃比色皿或空白樣品對紫外光譜的吸收太強，使放大器超出校正范圍。
檢查：將波長設為250nm，先為零，不帶任何物體，然后將空色度盤插入樣品通道一側，吸光度值應小于0.07Abs；如果大于這個值，可能是色度盤不清潔或玻璃c不潔。使用比色盤，同樣的方法也可以確定空白溶液的吸光度值；
處理：清洗試管，更換空白溶液。
（5）故障：吸光度值負值（ZUI通用）。
原因：無空白記憶，樣品吸光度值小于空白參考液。
檢查：需要更換參考液和樣品液。
處置：空白內存，交換參考解決方案或使用參考液體配置樣本溶液。
（6）故障：樣本信號重現性差；
原因：除自身原因外，試樣固溶不均勻的可能性較大；在簡單的單光束儀器中，試樣槽一般為推拉式，有時重復推拉不處于同一位置；
檢查：更換一個穩定的樣品；
處置：采用正確的樣品配置方法，修復推拉式樣品架的定位和接觸珠。
（7）故障：當進行基線掃描或樣本掃描時，基線或信號具有較大的負脈沖。
原因：掃描速度設定得太快，當讀取信號時，濾波器或光源鏡開關被誤認為是信號讀取；
檢查：改變掃描速度；
（8）故障：當進行基線掃描或樣本掃描時，基線或信號具有長的負值或全屏噪聲；
原因：濾清器進給電機“失步”，造成檔位錯位，尤其是國產電機。
檢查：可以恢復重啟，或者打開單色器檢查波長和濾光片的相對位置（注意：當單色器打開時，保護檢測器免受強光刺激）；
處理：更換進給電機；
（9）失效：樣品的峰值位置不正確。
原因：波長傳遞機構的位移。
檢查：通過氘燈的65.1nm特征光譜判斷波長是否準確。
處置：對于儀器，處理手段相對簡單，利用儀器固有的自動校正功能即可；對于相對簡單的儀器，這種調整需要專業人員來進行；
(10)故障：信號的分辨率不夠，具體表現為：應疊加在小的峰值上不能觀察到；
原因：狹縫太窄，掃描速度太快，導致探測器響應速度跟不上，從而失去被測信號；根據一般原理，一定狹縫寬度應與一定掃描速度范圍相對應；或者狹縫太寬從而減小儀器分辨率，使小峰在大峰處融合。
檢查：減慢掃描速度或縮小狹縫。
配置：綜合掃描速度、狹縫寬度和時間常數三個條件，形成*化條件。
(11)故障：當雙光束分光光度計的波長固定在某一波長時，吸光度信號上下擺動，特別是當測量模式轉換為帶有鍵開關的簡單儀器時。
原因是開關觸點的接觸由于長期氧化而較差。
檢查：當手的重量增加時，吸收值相應地改變。
處置：使用金屬激活器清潔按鍵觸摸。
（12）故障：2000。可見分光光度計的零點是不穩定的，這主要體現在簡單的儀器上。
原因：在簡單的2000可見分光光度計中，零點通常由電位器調整，電位器通常由碳膜電阻組成，并且經常導致接觸不良。
處置：更換電位器；
另外，如果PC是連接紫外線的，同志們必須注意接口板不要意外損壞，必須關機后再插上。如果可見部分的穩定性不好，則可能是鎢燈電源電壓不穩定，一般鎢燈電源是穩壓電路。
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